集成電路卡數(shù)據(jù)完整性保護(hù)機(jī)制快速檢測(cè)方法 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:wwei | |
文檔大小:3639 K | |
標(biāo)簽: 集成電路 數(shù)據(jù)完整性 數(shù)據(jù)恢復(fù) | |
所需積分:0分積分不夠怎么辦? | |
文檔介紹:介紹了集成電路(Integrated Circuit,IC)卡數(shù)據(jù)完整性保護(hù)機(jī)制檢測(cè)方法,針對(duì)傳統(tǒng)單指令斷電檢測(cè)手段的局限性和不足提出二次斷電理論,用于檢測(cè)驗(yàn)證IC卡在執(zhí)行數(shù)據(jù)恢復(fù)過(guò)程中出現(xiàn)中斷的事務(wù)保護(hù)機(jī)制。采用時(shí)間統(tǒng)計(jì)法和功耗統(tǒng)計(jì)法兩種改進(jìn)方案,計(jì)算斷電測(cè)試有效時(shí)間區(qū)域,解決二次斷電檢測(cè)效率低下問(wèn)題。最后通過(guò)實(shí)驗(yàn)結(jié)果驗(yàn)證數(shù)據(jù)完整性保護(hù)機(jī)制快速檢測(cè)方法的有效性。 | |
現(xiàn)在下載 | |
VIP會(huì)員,AET專家下載不扣分;重復(fù)下載不扣分,本人上傳資源不扣分。 |
Copyright ? 2005-2024 華北計(jì)算機(jī)系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號(hào)-2