| 面向密碼芯片設計階段的仿真側信道安全性分析方法研究 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大?。?span>4798 K | |
| 標簽： 密碼芯片 仿真功耗 泄漏檢測 | |
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| 文檔介紹：密碼芯片是密碼算法實現的重要載體，在信息系統中承擔了加解密、簽名、認證等功能，側信道分析是檢測密碼芯片安全性的重要手段，當前行業內通常采用專用設備進行側信道分析，該方法存在發現時間晚、修復成本高、硬件設備昂貴等問題。研究面向密碼芯片設計階段的能量采集與側信道分析方法，采用EDA工具在設計階段對密碼芯片的RTL代碼進行功能仿真，通過分析仿真生成的波形記錄文件，實現對能量跡的模擬和采集。采用Welch t檢驗、KL散度和相關能量分析方法，實現了對芯片RTL代碼的泄漏檢測、泄漏定位和側信道攻擊。通過對AES-128 RTL設計的仿真實驗，證明了該方法能夠正確地反映能量泄漏情況，且能夠在不借助專用硬件設備的條件下實現對密碼芯片早期設計階段的側信道泄漏安全風險檢測。 | |
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