| 基于JTAG的高效調試系統設計與實現 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：zhoubin333 | |
| 文檔大小：3530 K | |
| 標簽： 調試系統 JTAG接口 IEEE1149.1 | |
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| 文檔介紹：為了給自研處理器芯片提供一種高效方便的調試方法，提出了一種基于JTAG的片內調試系統設計方法。該調試系統在遵循JTAG標準協議的基礎上，簡化片內調試硬件模式設計，以較少的硬件開銷和精簡高效的專用調試指令設計，不僅實現了調試中斷、指令/數據斷點設置、單步執行及寄存器/存儲器數據讀寫等基本調試功能，還支持現場保護與恢復、Trace Buffer、指令插入執行等高級調試功能。經實際芯片測試證明，該調試系統具有兼容JTAG協議、功能全面、靈活高效、結構簡單、便于操作等特點。 | |
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