| 芯片樣品驗證平臺自適應和同步測試功能的設計與實現 | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：4381 K | |
| 標簽： 自適應 同步測試 樣品驗證 | |
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| 文檔介紹：目前，芯片設計公司在對量產級的芯片進行樣品驗證時，傳統的樣品驗證方法大多是基于芯片自身特點來設計相應的測試設備，然后通過測試夾具對芯片樣品逐一測試，不同的芯片會設計不同的測試設備。提出了一種自適應且可同步測試的樣品驗證平臺方案，既可以實現同時測試多顆芯片，也可以對不同接口的芯片進行測試；既可以進行可靠性實驗測試，也可以進行其他功能的測試，大大節省了測試設備的維護成本，提高測試效率。 | |
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