| 一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：4243 K | |
| 標(biāo)簽： S參數(shù) 去嵌 高頻信號 | |
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| 文檔介紹：在S參數(shù)的測量過程中，需通過去嵌方法去除測試夾具帶來的結(jié)果誤差。該算法通過時域的方法對夾具進(jìn)行分解。接著將分解得到的夾具S參數(shù)采用ABCD矩陣運(yùn)算進(jìn)行去除，從而得到待測器件的S參數(shù)。通過設(shè)計(jì)測試板來進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，將該算法與傳統(tǒng)的AFR和Delta L方法進(jìn)行了比較，驗(yàn)證了該去嵌算法對高頻信號的有效性以及準(zhǔn)確性。同時由于該算法先分解再去嵌的特性，使其可應(yīng)用于左右夾具不一致的情況。 | |
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