| C-R型多通道10 bit SAR-ADC設(shè)計 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大?。?span>691 K | |
| 標(biāo)簽： 模數(shù)轉(zhuǎn)換 溫度計碼 CR逐次逼近 | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：采用0.13 μm工藝，設(shè)計并實現(xiàn)了一款單端CR型分級的10 bit SAR-ADC。在設(shè)計中，CR型分級的采用顯著降低了芯片面積，高5位的溫度計碼控制有效消除時鐘潰通等誤差，自舉開關(guān)的設(shè)計提高了采樣精度，前置放大器的高精度靜態(tài)比較器有效降低失調(diào)、提升了轉(zhuǎn)換精度。設(shè)計的ADC內(nèi)核尺寸為580 μm×290 μm，后仿真結(jié)果顯示，在采樣率1 MS/s下，輸入正弦信號200 kHz時，ENOB可達(dá)9.5位，EO=1 LSB。 | |
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