《電子技術應用》
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宇航級芯片設計的特別之處

2020-11-07
來源:半導體行業(yè)觀察
關鍵詞: 宇航級芯片 FPGA Xilinx

  電子裝備系統(tǒng)是星鏈、火星探測器、玉兔、嫦娥等航天器的重要支撐,而宇航級芯片則是航天航空電子裝備的心臟。

  江湖中流傳這樣一個傳說,Xilinx的一款宇航級FPGA芯片,其單價約500萬元,為史上最貴芯片。

  這個傳說并不是說完全沒有依據,宇航級芯片必須具備抗輻照特性,其身價往往是我們生活中常見的消費級芯片的數十倍,甚至成百上千倍。那么,與消費級芯片相比,這些昂貴的宇航級芯片在設計階段有什么特別之處呢?

  宇航級芯片所處的空間環(huán)境

  在航天器運行的空間環(huán)境中,存在著大量的高能粒子和宇宙射線。這些粒子和射線會穿透航天器屏蔽層,與元器件的材料相互作用產生輻射效應,引起器件性能退化或功能異常,影響航天器的在軌安全。引起器件輻射效應的主要空間輻射源包括地球輻射帶、銀河宇宙射線、太陽宇宙線和人工輻射。

  其中,對芯片工作影響最為嚴重的輻射效應當屬“單粒子效應”。

  據數據統(tǒng)計,從 1971 年到 1986 年間,國外發(fā)射的 39 顆同步衛(wèi)星共發(fā)生了 1589 次故障,有 1129 次故障與空間輻射有關,且其中的 621 次故障是由于單粒子效應導致的。這些統(tǒng)計數據說明了航天應用中電子器件的主要故障來自于空間輻射,而單粒子效應導致的故障在其中占較大比重。

  這些故障中,部分是永久性不可逆的,如發(fā)生單粒子鎖定導致芯片內部局部短路從而產生大電流燒毀器件。針對此類錯誤可以應用一些特定工藝或器件庫來避免。而太空中大部分錯誤是由于半導體器件的邏輯狀態(tài)跳變而導致的可恢復的錯誤,如單粒子翻轉導致存儲器存儲內容錯誤。

  單粒子翻轉(Single-Event Upsets,SEU)指的是元器件受輻照影響引起電位狀態(tài)的跳變,“0”變成“1”,或者“1”變成“0”,但一般不會造成器件的物理性損傷。正因為“單粒子翻轉”頻繁出現,因此在芯片設計階段需要重點關注。這也是這篇文章的重點。

  在芯片設計階段如何防護“單粒子翻轉”

  (1) 選擇合適的工藝制程

  在航天領域,并不是工藝制程越小越好。通常來講,工藝制程越小,抗輻照能力越差。因此,為了確保可靠性,一般會選擇較大線寬的制程,比如0.18um、90nm、65nm等,而不會一味追求摩爾定律的前沿制程。

  (2)加固標準單元工藝庫

  標準單元工藝庫是數字芯片的基石。如果把數字芯片看做一個建筑,標準單元工藝庫就是構成建筑的磚塊。標準單元工藝庫包括反相器、與門、寄存器、選擇器、全加器等多種基本單元,每一個標準單元對應著多個不同尺寸(W/L)、不同驅動能力的單元電路,基于這些基本單元即可構成復雜的數字芯片。

  鑒于數字芯片的超大規(guī)模,已經很難通過全定制電路結構的方式來設計,而直接對商用工藝庫進行加固則是設計成本最低的選擇。在制造廠商提供的標準單元庫基礎上結合抗輻照加固措施,使設計出來的輸入輸出單元庫具有抗輻照能力。加固之后的工藝庫需要晶圓廠流片驗證。

  (3)設計冗余化

  在抗輻照加固方法中,三模冗余(TMR)是最具有代表的容錯機制。同一時間三個功能相同的模塊分別執(zhí)行一樣的操作,鑒于單粒子翻轉瞬時僅能打翻1路,“三選二”的投票器將會選出其余兩路的正確結果,增強電路系統(tǒng)的可靠性。三模冗余最顯著優(yōu)點是糾錯能力強,且設計簡單,大大提高電路可靠性;但缺點也是顯而易見,會將電路增大3倍以上。TMR的方法較為靈活,可根據性能需求在寄存器級、電路級、模塊級等任意層次設計TMR,部分EDA工具也可自動插入。

  錯誤檢測與糾正電路(Error Detection And Correction,EDAC)也是一種簡單高效的防護單粒子翻轉的電路設計方法。EDAC 主要依據檢錯、糾錯的原理,通過轉換電路將寫入的數據生成校驗碼并保存,當讀出時靠對校驗碼進行判定,若只有一位出錯系統(tǒng)則自動糾正并將正確的數據輸出,同時還會進行數據的回寫從而覆蓋原來出錯的數據。EDAC盡管糾錯能力強大,但是需要糾錯、譯碼電路,因此結構較為復雜,不適宜用于高性能的數據通道中。EDAC也可用于糾正多bit出錯的情況,但是糾錯電路會更加復雜。

  權衡TMR和EDAC的優(yōu)缺點,通常會在邏輯電路設計中使用TMR,在存儲器讀寫電路中使用EDAC。

  (4)模塊獨立化

  單粒子翻轉頻繁出現,必須考慮到翻轉發(fā)生之后不影響芯片的整體功能。因此,在架構設計中需要盡可能確保模塊之間保持較強的獨立性,盡可能具備獨立的復位功能,使得在單粒子打翻信號值之后,一方面出錯電路能夠盡快通過復位信號恢復正常;另一方面,確保其他正常工作的模塊不受影響。此外,還需增加異常檢測電路,發(fā)現異常即可對電路進行復位。

  小結

  雖然上述方法可以很好地防護單粒子翻轉效應,但是也給邏輯綜合、布局布線帶來很多困擾,在芯片物理實現過程中需要小心謹慎應對。除上述方法外,還可引入Muller C單元、雙互鎖存儲單元結構(DICE)對晶體管級電路進行防護,也可在版圖階段使用環(huán)形柵替換條形柵。

  總之,在航天領域中,芯片的性能并不是第一考慮要素,可靠性才是重中之重。只有芯片具備抗輻照能力,才能確保航天器正常運行。

 


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