文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223110
中文引用格式： 王于波，胡毅，關(guān)媛，等. 高精度高擺幅多工位ADC測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(4)：44-51.
英文引用格式： Wang Yubo，Hu Yi，Guan Yuan，et al. Design of high precision and high swing multi-site ADC test system[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(4)：44-51.
0 引 言
電力監(jiān)控系統(tǒng)依賴于對(duì)瞬時(shí)電流、電壓信號(hào)的測(cè)量實(shí)現(xiàn)電網(wǎng)線路或電力設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)的采集，從而得以對(duì)電網(wǎng)運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控。這種測(cè)量通常是通過模數(shù)變換器(ADC)采集電流變壓器(CT)和電壓變壓器(PT)的輸出來(lái)完成的，而CT或PT典型的輸出為±5 V或±10 V。因此，電力及工業(yè)領(lǐng)域高精度ADC集成芯片測(cè)試通常需要能夠滿足高達(dá)±10 V甚至以上的高擺幅信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。而目前主流的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)，其模擬波形發(fā)生模塊測(cè)試信號(hào)輸出幅度都達(dá)不到±5 V的輸出范圍，更別說(shuō)高達(dá)±10 V甚至以上；另外，ATE設(shè)備通用的DPS電源板卡供電范圍通常也在±7 V以內(nèi)。
雖然目前ATE設(shè)備難以滿足±10 V甚至以上的高擺幅測(cè)試信號(hào)輸出要求，但市場(chǎng)上已有主流ATE系統(tǒng)，如Advantest公司的V93000、Teradyne公司的Ultraflex等SoC測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備[7-10]，功能強(qiáng)大、性能穩(wěn)定，并已形成一套穩(wěn)定的測(cè)試程序開發(fā)流程和成熟規(guī)范的市場(chǎng)渠道，設(shè)備提供商可對(duì)設(shè)備的維護(hù)提供穩(wěn)定的支持，從而為集成芯片產(chǎn)品的量產(chǎn)提供穩(wěn)定保障，避免芯片量產(chǎn)中可能出現(xiàn)的風(fēng)險(xiǎn)。因此，在現(xiàn)有ATE系統(tǒng)基礎(chǔ)上，通過開發(fā)項(xiàng)目所需的外加模塊或器件以補(bǔ)充現(xiàn)有ATE測(cè)試系統(tǒng)性能或成本的不足，同時(shí)，又充分利用其強(qiáng)大功能、成熟開發(fā)流程、穩(wěn)定的性能及維護(hù)支持，將是一種比較合理的解決方案。
本文正是基于這樣的需求和思路，為了滿足面向智能電網(wǎng)及其他工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域需要高輸入擺幅高精度ADC測(cè)試信號(hào)的需求，開發(fā)了一套基于現(xiàn)有主流V93000 ATE測(cè)試系統(tǒng)的最大輸出信號(hào)峰峰值可高達(dá)29 V以上的ADC測(cè)試系統(tǒng)。
本文詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)下載：http://www.rjjo.cn/resource/share/2000005281
作者信息：
王于波1，胡毅1，關(guān)媛1，王琨1，李大猛1，肖鵬程2
（1.北京智芯微電子科技有限公司， 北京 102200；2.復(fù)旦大學(xué)專用集成電路與系統(tǒng)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室， 上海 201203）
