開關(guān)電源的質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的技術(shù)性能以及其安全性和可靠性。電源測試項目多，計算量大，統(tǒng)計繁瑣等問題一直困擾著工程師們，為了解決這些問題，今天就帶您走進(jìn)開關(guān)電源測試的新世界。

　　示波器電源測試分析主要實(shí)現(xiàn)使用示波器來對電源(開關(guān)電源)進(jìn)行相關(guān)測試，提高電源開發(fā)人員的工作效率，方便對電源模塊進(jìn)行測試。主要涉及開關(guān)電源(AC/DC)有關(guān)測試。在大多數(shù)現(xiàn)代系統(tǒng)中，流行的 DC 電源結(jié)構(gòu)是開關(guān)電源(SMPS)，這種電源因能夠高效處理負(fù)載變化而聞名。典型 SMPS 的電源信號路徑包括無源元件、有源元件和磁性元件。SMPS 最大限度地減少了有損耗的元件的使用量，如電阻器和線性模式晶體管，重點(diǎn)采用(在理想條件下)沒有損耗的元件，如開關(guān)式晶體管、電容器和磁性元件。其主要構(gòu)成如圖 1所示。

　　開關(guān)電源的測試參數(shù)主要包括輸入端分析、輸出端分析、磁性元件分析、開關(guān)器件分析、調(diào)制分析、環(huán)路分析等，如下表為進(jìn)入電源分析測試界面后，對于各個測試功能的測試項目。首先我們先以最常見的開關(guān)損耗測試為例進(jìn)行講解。

　　一、開關(guān)損耗測試

　　1.測試原理

　　開關(guān)電源的開關(guān)器件總是工作在打開或關(guān)閉狀態(tài)，可以提供更高的效率。理想情況下，開關(guān)器件打開和關(guān)閉是沒有損耗的。如圖2所示。

　　ON = 完全導(dǎo)通(理想情況下 V = 0, 意味著開關(guān)損耗 P = V x I = 0)

　　OFF = 完全關(guān)閉(理想情況下 I = 0,意味著開關(guān)損耗 P = V x I = 0)

　　但現(xiàn)實(shí)情況中，是在存功率損耗的。主要包括開關(guān)損耗，傳導(dǎo)損耗。如下圖 3 所示。

　　針對功率損耗主要計算主要包括三部分之和：

　　導(dǎo)通過程損耗+關(guān)閉過程損耗+導(dǎo)通損耗

　　2.測試步驟

　　l開關(guān)元件分析的接線示意圖如下圖4所示。其中通道 1 使用高壓差分電壓探頭接開關(guān)的兩端，通道 2 使用電流探頭接開關(guān)的一端

　　l調(diào)節(jié)好電流探頭和電壓探頭的探頭比率后，點(diǎn)擊【Analyze】進(jìn)入電源分析測試界面，在【功能】中選擇【開關(guān)損耗】點(diǎn)擊【參數(shù)配置】進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置界面，如下圖5 所示。參數(shù)設(shè)置用于判定開關(guān)的狀態(tài)，需要進(jìn)行設(shè)置的參數(shù)有電壓通道、電流通道、參考電壓、參考電流和導(dǎo)通計算選擇。

　　l計算結(jié)果表格如圖6所示。

　　圖6  開關(guān)損耗測量結(jié)果